JEOL: Lanzamiento de un nuevo microscopio electrónico analítico de ultra alta resolución atómica JEM-ARM300F2 (GRAND ARM (TM)2)

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JEOL Ltd. (TOKIO:6951) (Presidente y Director de Operaciones Izumi Oi) anuncia el lanzamiento de un nuevo microscopio electrónico analítico de resolución atómica, JEM-ARM300F2 (GRAND ARM (TM)2) en febrero de 2020.

Este comunicado de prensa trata sobre multimedia. Ver la noticia completa aquí: https://www.businesswire.com/news/home/20200214005514/es/

JEM-ARM300F2 (Photo: Business Wire)

JEM-ARM300F2 (Photo: Business Wire)

Antecedentes de desarrollo del producto

En microscopía electrónica, un gran número de microscopistas e ingenieros siguieron buscando mejoras de resolución. Mientras tanto, JEOL llevó a cabo esfuerzos para mejorar la estabilidad del microscopio electrónico de transmisión (TEM). Combinando tecnologías de corrección de aberraciones con estos esfuerzos, hemos logrado con éxito una resolución excelente.

El JEM-ARM300F (GRAND ARM (TM)) es un TEM de resolución atómica enfocado en lograr la mejor resolución de su clase. Pero las exigencias del TEM moderno no solo incluyen la caracterización de materiales duros, sino también de materiales blandos. Ante estas circunstancias, los usuarios de TEM necesitan una mejor resolución y análisis con un mayor grado de precisión.

JEOL desarrolló un nuevo TEM, el JEM-ARM300F2 (GRAND ARM (TM)2), que cumple con estos requisitos. Este TEM analítico de ultra alta resolución atómica tiene muchas características. En particular, con una nueva pieza polo de la lente del objetivo, "FHP2", el GRAND ARM (TM)2 logra una combinación óptima de imágenes de resolución atómica magníficamente alta junto con el mejor análisis elemental EDS de ángulo sólido en su clase.

La configuración estándar de GRAND ARM (TM)2 incluye una carcasa que reduce las perturbaciones externas, lo que conduce a una mayor estabilidad del instrumento.

Características principales

1. Una combinación óptima de ultra alta resolución espacial con análisis de rayos X de alta sensibilidad.
Las características de la pieza polo de la lente del objetivo FHP2 recientemente desarrollada son las siguientes:
1) En comparación con el FHP anterior, el FHP2 proporciona una mayor eficiencia de detección de rayos X (1.4sr), más del doble que la FHP.
2) Un bajo coeficiente óptico, un bajo coeficiente Cc y un bajo coeficiente Cs permiten realizar una ultra alta resolución espacial y un análisis de rayos X de alta sensibilidad en un rango de voltajes de aceleración.
(Resolución STEM garantizada: 53pm a 300kV, 96pm a 80kV)*
*Esto es cuando se configura el Corrector de aberraciones de trayectoria expansiva (ETA) STEM.

2. El Wide Gap Polepiece (WGP) para la lente del objetivo permite el análisis de rayos X de sensibilidad ultra alta.
Esta pieza polo, con un gran espacio entre el polo superior y el polo inferior, tiene las siguientes ventajas:
1) El WGP permite que los SDD de área grande (detectores de deriva de silicio) se acerquen más a la muestra, logrando un análisis de rayos X de sensibilidad ultra alta (ángulo sólido total de 2.2sr).
2) El WGP acomoda soportes de muestras más gruesos, permitiendo diversos tipos de experimentos in situ.

3. Los correctores de aberración esférica (Cs) desarrollados por JEOL están integrados en la columna del microscopio y ofrecen una resolución espacial ultra alta.
1) Combinado con el FHP2, el GRAND ARM (TM)2 logra una resolución STEM de 53pm a 300kV.
2) Combinado con el WGP, el GRAND ARM (TM)2 alcanza una resolución STEM de 59pm a 300kV.
3) JEOL COSMO (TM) (Módulo del Sistema Corrector) hace posible realizar una corrección de aberraciones de manera fácil y rápida.

4. Se entrega una pistola de emisión de campo frío (Cold-FEG) como estándar.
El GRAND ARM (TM)2 está equipado con un Cold-FEG que proporciona un menor diferencial de energía desde la fuente de electrones.

5. Un recinto que reduce las perturbaciones externas
Este nuevo recinto es estándar para reducir las perturbaciones externas como el flujo de aire, los cambios de temperatura ambiente y el ruido acústico.

Especificaciones principales

Resolución garantizada

 

Imagen HAADF-STEM: 53pm (con corrector ETA y FHP2)
Pistola de electrones: Pistola de emisión de campo frío (Cold-FEG)

Voltaje de aceleración

Estándar: 300kV y 80kV

Espectrómetro de rayos X dispersivo de energía.

SDD de área grande (158 mm2): Es posible contar con detectores duales
Ángulo sólido: 1.4sr (con FHP2)

Venta de unidades prevista por año

10 unidades/año

JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokio, 196-8558, Japón
Izumi Oi, presidente y director ejecutivo
(Código de acciones: 6951, primera sección de la Bolsa de Valores de Tokio)
www.jeol.com

El texto original en el idioma fuente de este comunicado es la versión oficial autorizada. Las traducciones solo se suministran como adaptación y deben cotejarse con el texto en el idioma fuente, que es la única versión del texto que tendrá un efecto legal.

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